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以后再說(shuō)X
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蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia610 & 620 Versa

蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進(jìn)的光源和光學(xué)技術(shù)

  X射線(xiàn)計算機斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰是:實(shí)現大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線(xiàn)顯微鏡憑借以下優(yōu)勢解決了這些挑戰:系統可提供高功率的X射線(xiàn)源,顯著(zhù)提高X射線(xiàn)通量,從而加快了斷層掃描速度。


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產(chǎn)品詳情

  蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Versa憑借優(yōu)異的大工作距離高分辨率(RaaD)的特性,成為了全球研究人員和科學(xué)家的“有力幫手”。在相對大工作距離下也能保持高分辨率,有助于產(chǎn)生意義非凡的科學(xué)見(jiàn)解和發(fā)現。隨著(zhù)當今技術(shù)的快速發(fā)展,對分析儀器也提出了更高的要求,而蔡司Xradia 600 Versa系列就是專(zhuān)為應對這一挑戰而設計的。

  蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進(jìn)的光源和光學(xué)技術(shù)

  X射線(xiàn)計算機斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰是:實(shí)現大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線(xiàn)顯微鏡憑借以下優(yōu)勢解決了這些挑戰:系統可提供高功率的X射線(xiàn)源,顯著(zhù)提高X射線(xiàn)通量,從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達兩倍,而且不會(huì )影響空間分辨率。同時(shí),X射線(xiàn)光源的穩定性得到提升,使用壽命也更長(cháng)。

  主要特性包括:

  ?zui高空間分辨率500nm,zui小體素40 nm

  ?與蔡司Xradia 500Versa系列相比,工作效率提高兩倍

  ?更加簡(jiǎn)便易用,包括快速激活源

  ?能夠在較大的工作距離下對更廣的樣品類(lèi)型和尺寸的樣品進(jìn)行亞微米特征的觀(guān)察

  更高的分辨率和通量

  傳統斷層掃描技術(shù)依賴(lài)于單一幾何放大,而蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia Versa則將采用光學(xué)和幾何兩級放大,同時(shí)使用可以實(shí)現更快亞微米級分辨率的高通量X射線(xiàn)源。大工作距離下高分辨率成像技術(shù)(RaaD)能夠對尺寸更大、密度更高的樣品(包括零件和設備)進(jìn)行無(wú)損高分辨率3D成像。此外,可選配的平板探測器技術(shù)(FPX)能夠對大體積樣品(重達25 kg)進(jìn)行快速宏觀(guān)掃描,為樣品內部感興趣區域的掃描提供了定位導航。

  實(shí)現新的自由度

  運用業(yè)界出色的3D X射線(xiàn)成像解決方案完成前沿的科研與工業(yè)研究 :憑借zui大化利用吸收和相位襯度,幫助您識別更豐富的材料信息及特征。運用衍射襯度斷層掃描技術(shù)(LabDCT)揭示3D晶體結構信息。先進(jìn)的圖像采集技術(shù)可實(shí)現對大樣品或不規則形狀樣品的高精度掃描。運用機器學(xué)習算法,幫助您進(jìn)行樣品的后處理和分割。

  優(yōu)異的4D/原位解決方案

  蔡司Xradia 600 Versa系列能夠在可控環(huán)境下進(jìn)行材料3D無(wú)損微觀(guān)結構表征的動(dòng)態(tài)過(guò)程。憑借Xradia Versa在大工作距離下仍可保持高分辨率成像的特性,可將樣品放置到樣品艙室或高精度原位加載裝置中進(jìn)行高分辨率成像。Versa可與蔡司其它顯微鏡無(wú)縫集成,解決多尺度成像方面的挑戰。


蔡司 Xradia 610 Versa

蔡司 Xradia 620 Versa

空間分辨率a

500 nm

500 nm

大工作距離下的高分辨率
(RaaD?)a,b
(50mm工作距離下)

1.0 μm

1.0 μm

zui小可實(shí)現的體素c
(zui大放大倍率下樣品的體素大小)

40 nm

40 nm

X射線(xiàn)源電壓范圍

30–160 kV

30–160 kV

X射線(xiàn)源zui大輸出功率

25 W

25 W

Scout-and-Scan?控制系統

?

?

Scout-and-Zoom

?

?

垂直拼接

?

?

XRM Python API

?

?

自動(dòng)X(jué)射線(xiàn)濾光片轉換器(AFC)


?

高縱橫比斷層掃描(HART)


?

雙掃描襯度可視化系統(DSCoVer)


?

寬場(chǎng)模式

0.4x

0.4x 和 4x

蔡司LabDCT衍射襯度斷層掃描


選配

蔡司自動(dòng)進(jìn)樣裝置

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原位接口套件

選配

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蔡司OptiRecon

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蔡司ZEN Intellesis

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ORS Dragonfly Pro

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